तेजी से भारित चलती - औसत - नियंत्रण - योजनाओं - साथ - चर - नमूना - अंतराल

परिवर्तनीय नमूनाकरण अंतरालों के साथ ईडब्ल्यूएमए चार्टों के आर्थिक डिजाइन इस आलेख को इस रूप में बताएं: चोउ, सीवाई चेन, सीएच लियू, एचआर क्वालि क्वांट (2006) 40: 879. डोई: 10.1007s11135-005-8822-8 नियंत्रण चार्टिंग एक चित्रमय अभिव्यक्ति और सांख्यिकीय परिकल्पना परीक्षण के संचालन है। वर्तमान पत्र में, हम चार्ट के छह परीक्षण मापदंडों के मूल्यों को निर्धारित करने के लिए चर नमूनाकरण अंतराल (वीएसआई) घातीय भारित चलती औसत (ईडब्ल्यूएमए) चार्ट के आर्थिक डिजाइन को विकसित करते हैं (नमूना आकार, लंबा नमूना अंतराल, लघु नमूना अंतराल, चेतावनी सीमा गुणांक, नियंत्रण सीमा गुणांक, और घातीय वजन स्थिर) इस तरह की उम्मीद की कुल लागत कम कर दी गई है जीएसआई ईडब्ल्यूएमए चार्ट के छह परीक्षण मापदंडों के इष्टतम मूल्य की खोज के लिए आनुवंशिक एल्गोरिथ्म (जीए) लागू किया गया है, और एक उदाहरण समाधान प्रक्रिया को स्पष्ट करने के लिए प्रदान किया गया है। तब आर्थिक डिजाइन के समाधान पर मॉडल पैरामीटर के प्रभाव की जांच के लिए एक संवेदनशीलता विश्लेषण किया जाता है। नियंत्रण चार्ट तेजी से भारित चलती औसत चर नमूनाकरण अंतराल संदर्भ अमीन, आर। डब्लू। (1987)। चर नमूनाकरण अंतराल नियंत्रण चार्ट, पीएचडी निबंध, वर्जीनिया टेक, ब्लैकस्बर्ग, वीए, यूएसए अमीन, आर। डब्ल्यू। मिलर, आर. डब्ल्यू। 1993 परिवर्तनीय नमूनाकरण के साथ X चार्ट का सशक्त अध्ययन अंतराल गुणवत्ता प्रौद्योगिकी जर्नल 25 36 44 Google विद्वान अपारसी, एफ। हैरो, सी.एल. 2001 हॉटलाइन्स टी 2 नियंत्रण चार्ट चर नमूनाकरण अंतराल के साथ इंटरनेशनल जर्नल ऑफ प्रोडक्शन रिसर्च 39 3127 3140 क्रॉसफर्फ गूगल स्कॉलर बक्सले, आर. व्ही। 1995 चर नमूनाकरण अंतराल नियंत्रण चार्ट का एक आवेदन गुणवत्ता प्रौद्योगिकी जर्नल 27 275 282 Google विद्वान भट्टाचार्य, एस। पिक्टेट, ओ. व्ही। Zumbach, G. 2002 विदेशी मुद्रा बाजार में ज्ञान-गहन आनुवांशिक खोज आईईईई उत्क्रांतिय कम्प्यूटेशन पर लेनदेन 6 16 9 181 क्रॉसफर्फ गूगल विद्वान चोउ, सी। वाई। चेन, सीएच। चेन, सीएच। 2006 चर नमूनाकरण अंतराल के आर्थिक डिजाइन आनुवंशिक एल्गोरिदम का उपयोग कर टी-स्क्वायर नियंत्रण चार्ट्स अनुप्रयोगों के साथ विशेषज्ञ सिस्टम 30 233 242 क्रॉसफर्फ Google विद्वान क्रडर, एसवी। 1987 तेजी से वजन बढ़ने वाले औसत नियंत्रण चार्टों के रन लंबाई वितरण का अध्ययन करने के लिए एक सरल विधि टेक्नोमेट्रिक्स 29 401 407 क्रॉसफ्रफ Google विद्वान डंकन, ए जे। 1 9 56 एक्स चार्ट का आर्थिक डिजाइन एक प्रक्रिया के वर्तमान नियंत्रण को बनाए रखने के लिए इस्तेमाल किया गया था अमेरिकी सांख्यिकी संघ 52 52 228 242 क्रॉसफ्रफ गूगल विद्वान जिब्रा, आईएन। 1971 एक्स-बार कंट्रोल चार्ट के पैरामीटर के आर्थिक रूप से इष्टतम दृढ़ संकल्प प्रबंधन विज्ञान 17 635 646 क्रॉसफ्रफ Google विद्वान गोयल, ए. एल. जैन, एसडी। वू, एस. एम. 1 9 68 डंकन के मॉडल के आधार पर एक्स-बार चार्ट के आर्थिक डिजाइन के निर्धारण के लिए एक एल्गोरिथ्म, अमेरिकन स्टेटिस्टिकल एसोसिएशन 63 304 320 क्रॉसफ्रफ गूगल विद्वान हो, सी केस, के.ई. 1 99 4 1 99 1 नियंत्रण रेखा के आर्थिक डिजाइन: 1 9 81 9 1 99 1 के लिए साहित्य समीक्षा जर्नल ऑफ़ क्वालिटी टेक्नोलॉजी 26 1 18 Google विद्वान हो, सी केस, केई। 1 99 4 आर्थिक रूप से आधारित ईडब्ल्यूएमए नियंत्रण चार्ट इंटरनेशनल जर्नल ऑफ प्रोडक्शन रिसर्च 32 2179 2186 Google विद्वान हॉलैंड, जे एच एच 1 9 75 प्रकृति और कृत्रिम व्यवस्था में अनुकूलन प्रणाली मिशिगन विश्वविद्यालय के प्रेस एन आर्बर, मिशिगन, अमेरिका के Google विद्वान जेन्सेन, एम. टी. 2003 उत्पीड़न के आधार पर जेनेटिक एल्गोरिदम आईईईई लेनदेन का उपयोग करके मजबूत और लचीला नौकरी की दुकान के कार्यक्रमों को उत्पन्न करना 7 275 288 क्रॉस-आरफ गूगल विद्वान नैप्पेनबर्गर, एच. ए. दादाजी, ए. एच. 1 9 6 9 न्यूनतम लागत गुणवत्ता नियंत्रण परीक्षण एआईई लेनदेन 1 24 32 Google विद्वान लिन, वाई. ए.सी. चोउ, सी। वाई। 2005a निश्चित समय पर नमूना लेने के साथ अनुकूली एक्स नियंत्रण चार्ट गुणवत्ता और विश्वसनीयता इंजीनियरिंग अंतर्राष्ट्रीय 21 163 175 क्रॉसफ्रफ Google विद्वान लिन, वाई. ए.सी. चोउ, सी। वाई। 2005 चर नमूना आकार और नमूनाकरण अंतराल के डिजाइन पर एक्स-बार चार्ट गैर-सामान्यता के तहत उत्पादन अर्थशास्त्र के इंटरनेशनल जर्नल 96 249 261 क्रॉसफ्रीफ गूगल विद्वान लोरेंज़ेन, टी.जे. वेंस, एल. सी. 1 9 86 नियंत्रण चार्ट का आर्थिक डिजाइन: एक एकीकृत दृष्टिकोण टेक्मेत्रिक्स 28 3 10 क्रॉसफ्रफ गूगल विद्वान मॉन्टगोमेरी, डीसी 1980 नियंत्रण चार्ट का आर्थिक डिजाइन: समीक्षा और साहित्य सर्वेक्षण गुणवत्ता प्रौद्योगिकी के जर्नल 12 75 87 Google विद्वान रेनॉल्ड्स, एमआर अमीन, आरडब्ल्यू अर्नोल्ड , जेसी नाचलास, जेए चर के नमूने के अंतराल के साथ 1988 एक्स चार्ट टेक्नोमेट्रिक्स 30 181 1 9 2 क्रॉसफर्फ Google विद्वान रॉबर्ट्स, एसडब्ल्यू। 1 9 5 9 नियंत्रण चार्ट परीक्षाएं ज्यामितीय चलती औसत पर आधारित टेक्नोट्रिक्स 1 23 9 250 क्रॉस-आरफ Google विद्वान रॉबर्ट्स, एसडब्ल्यू। 1 9 66 कुछ नियंत्रण चार्ट प्रक्रियाओं की तुलना टेक्नोमेट्रिक्स 8 411 430 क्रॉसफ्रफ गूगल विद्वान सक्कुकी, एम. एस. लुकास, जेएम। 1990 मार्कोव श्रृंखला दृष्टिकोण का उपयोग करते हुए घातीय रूप से भारित चलने वाली औसत नियंत्रण योजनाओं के लिए औसत रन लंबाई जर्नल ऑफ़ क्वालिटी टेक्नोलॉजी 22 154 162 Google स्कॉलर सक्कुकी, एम. एस. अमीन, आर. डब्ल्यू। लुकास, जेएम। 1992, चर नमूनाकरण अंतरालों के साथ बढ़ते हुए औसत नियंत्रण योजनाएं। संचार में सांख्यिकी सिमुलेशन और कम्प्यूटेशन 21 627 657 Google विद्वान टॉरन्ग, जे.सी.सी. मोंटगोमेरी, डी.सी. कोचरान, जे.के. 1994 ईडब्ल्यूएमए नियंत्रण चार्ट के आर्थिक डिजाइन आर्थिक गुणवत्ता नियंत्रण 9 3 23 Google Scholar Vance, L. 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दर में छोटे से मध्यम वृद्धि की बेहतर पहचान का उद्देश्य गणना के लिए एक मार्कोव श्रृंखला मॉडल का उपयोग करते हुए, हम इस चार्ट के साथ-साथ निश्चित नमूना अंतराल सी ईडब्ल्यूएमए चार्ट के लिए इष्टतम डिज़ाइन प्राप्त करते हैं और दो नियंत्रण योजनाओं के निष्पादन की तुलना उनके अनुमानित समय के लिए करते हैं, जो आउट-ऑफ-कंट्रोल शर्त। डिजाइनों को इस मायने में इष्टतम कहा जाता है कि वे प्रक्रिया गैर-सम्बन्ध दर में निर्दिष्ट परिमाण के ऊपरी बदलाव की पहचान में अपेक्षित विलंब को कम करते हैं, जबकि झूठे अलार्म दर और निर्दिष्ट स्तरों पर औसत नमूना आवृत्ति रखते हुए। परिणाम वीएसआई स्कीम के उपयोग के साथ पहचान गति में काफी लाभ दिखाते हैं। प्रत्येक मामले के लिए पाए जाने वाले इष्टतम पैरामीटर को सारणीबद्ध किया जाता है और प्रथा में सीधे उपयोग किया जा सकता है। इष्टतम डिज़ाइन पैरामीटर टैबलेट के साथ विश्लेषण के परिणाम भी प्रोसेस के गैर-सम्बन्ध के अंश में छोटे से मध्यम वृद्धि के बेहतर पता लगाने के लिए वीएसआई एनपी ईडब्ल्यूएमए चार्ट में बढ़ाया जा सकता है, बशर्ते कि नियंत्रण-अंश में गैर-सम्बन्ध छोटा है। वैरिएबल नमूनाकरण अंतराल EWMA नियंत्रण चार्ट गुण अंशांकन गैर-अनुकूलन अनुकूली नियंत्रण चार्ट सांख्यिकीय प्रक्रिया नियंत्रण चार्ट पॉसॉन ईडब्ल्यूएमए VSI संदर्भ Annadi HP, Keats JB, Runger जीसी, मॉन्टगोमेरी डीसी (1995) एक अनुकूली नमूना आकार CUSUM नियंत्रण चार्ट इंट जे प्रोड रिज 33: 16051616 मैथ क्रॉसरफ Google विद्वान अरनॉल्ड जेसी, रेनॉल्ड्स एमआर जेआर (1994) चर नमूना आकार और चर अंतराल आकार के साथ CUSUM चार्ट। कार्यवाही, गुणवत्ता और उत्पादकता पर अनुभाग, एएसए, पीपी 132137 बोरार सीएम, चंप सीडब्ल्यू, रिगॉन एसई (1998) पॉसॉन ईडब्ल्यूएमए नियंत्रण चार्ट जे क्वॉल टेक्नोल 30 (4): 352361 Google विद्वान ब्रुक डी, इवांस डीए (1 9 72) सीयूसयूएम चलाने की लंबाई की संभावना के वितरण के लिए एक दृष्टिकोण। बायोमेट्रिका 59 (3): 539549 मैट क्रॉसरफ मैथस्सीनेट Google विद्वान कैपिसी जी, मासारोटो जी (2003) एक अनुकूली तेजी से भारित चलती औसत नियंत्रण चार्ट टेक्नोमेट्रिक्स 45 (3): 199207 क्रॉसराफ मैथिसनेट Google विद्वान कोस्टा एएफबी (1994) (ओवरलाइन एक्स) चर नमूना आकार के साथ चार्ट जे क्वॉल टेक्नोल 26 (3): 155163 Google विद्वान कोस्टा एएफबी (1 99 7) (ओवरलाइन एक्स) चर नमूना आकार और नमूना अंतराल के साथ चार्ट। जे क्वॉल टेक्नोल 29 (2): 1 9 7204 Google विद्वान कोस्टा एएफबी (1 99 8) संयुक्त (ओवरलाइन एक्स) और आर चर चर पैरामीटर के साथ IIE ट्रांस 30: 505514 Google विद्वान कोस्टा एएफबी (1 99 8) वीएसएसआई एक्सबार चार्ट निश्चित समय पर नमूने के साथ। संचार स्टेट थ्योरी मेथोड्स 27 (11): 28532869 मैथ क्रॉसफर्फ गूगल विद्वान कोस्टा एएफबी (1 999) संयुक्त (ओवरलाइन एक्स) और आर चार्ट जो कि चर नमूना आकार और नमूना अंतराल के साथ हैं। जे क्वॉल टेक्नोल 31: 387397 Google विद्वान कोस्टा एएफबी (1 999) (ओवरलाइन एक्स) चर पैरामीटर के साथ चार्ट जे क्वॉल टेक्नोल 31 (4): 408416 Google विद्वान एपप्रच्र्ट ईके, कोस्टा एएफबी (2001) एट्रिब्यूट्स के लिए अनुकूली नमूना आकार नियंत्रण चार्ट। Qual Eng 13 (3): 465473 CrossRef Google Scholar Epprecht EK, कोस्टा एएफबी, मेंडेस एफसीटी (2003) विशेषताओं के लिए अनुकूली नियंत्रण चार्ट IIE ट्रांस 35 (6): 567582 क्रॉसफर्फ गूगल विद्वान गणित एफएफ (1 99 0) संशोधित घातांकित भारित चलती औसत नियंत्रण चार्ट का उपयोग कर द्विपद वितरण से उत्पन्न 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योजना जे क्वॉल टेक्नोल 26 (3): 164176 Google विद्वान रेनॉल्ड्स एमआर जूनियर (1989) इष्टतम चर नमूनाकरण अंतराल नियंत्रण चार्ट। सेक गुल 8: 361379 एमएएच क्रॉसरफ मैथस्सीनेट Google विद्वान रेनॉल्ड्स एमआर जूनियर (1995) चर नमूनाकरण अंतराल नियंत्रण चार्ट के गुणों का मूल्यांकन करना। सेक गुल 14: 59 9 1 9 MATH क्रॉसरफ मैथिसनेट Google विद्वान रेनॉल्ड्स एमआर जूनियर (1 99 6) शेवार्ट और ईडब्ल्यूएमए वैरिएबल नमूनाकरण अंतराल नियंत्रण चार्ट निर्धारित समय पर नमूने के साथ। जे क्वाली टेक्नोल 28: 1 99 12 Google विद्वान रेनॉल्ड्स एमआर जूनियर, अर्नोल्ड जेसी (1989) चरतम नमूनाकरण अंतराल के साथ इष्टतम एक तरफा शेवार्ट नियंत्रण चार्ट। सेक गुल 8: 5177 एमएएच क्रॉसरफ मैथिसनेट Google विद्वान रेनॉल्ड्स एमआर जेआर, अर्नोल्ड जेसी (2001) एवलएम नमूना आकारों और चर नमूनाकरण अंतराल के साथ ईडब्ल्यूएमए नियंत्रण चार्ट। IIE ट्रांस 33: 511530 Google स्कॉलर रेनॉल्ड्स एमआर, अमीन आरडब्ल्यू, अर्नोल्ड जेसी, नाचलास जेए (1 9 88) (ओवरलाइन एक्स) चर नमूनाकरण अंतराल के साथ चार्ट। टेक्नोमेट्रिक्स 30 (2): 1811 9 9 क्रॉसरफ मैथिसनेट Google विद्वान रेनॉल्ड्स एमआर, अमीन आरडब्ल्यू, अर्नोल्ड जेसी (1 99 0) चर नमूनाकरण अंतराल के साथ सीयूएसएम चार्ट। टेक्नोमेट्रिक्स 32: 371384 एमएएच क्रॉसरफ मैथस्सीनेट Google विद्वान रूंगर जीसी, पज्ञैतीएल जे जे जूनियर (1 99 1) प्रक्रिया नियंत्रण के लिए अनुकूली नमूना। जे क्वॉल टेक्नोल 23: 135155 Google विद्वान रूंगर जीसी, मॉन्टगोमेरी डीसी (1993) शेवर चार्ट नियंत्रण चार्ट के लिए अनुकूली नमूनाकरण संवर्द्धन। IIE ट्रांस 25: 4151 क्रॉसफ्रफ Google विद्वान सक्कुकी एमएस, अमीन आरडब्ल्यू, लुकास जेएम (1 99 2) चर नमूनाकरण अंतराल के साथ तेजी से भारित चलती औसत नियंत्रण योजनाएं। संचार स्टेट सिमुल कंप्यूट 21: 627657 क्रॉसरफ मैथिसनेट Google विद्वान सावलापुरकर यू, रेनॉल्ड्स एमआर जेआर, अर्नोल्ड जेसी (1 99 0) वेरिएबल नमूनाकरण आकार (ओवरलाइन एक्स) नियंत्रण चार्ट। अमेरिकी सांख्यिकी संघ की सर्दी सम्मेलन में प्रस्तुत, ऑरलैंडो FL टैगारस जी (1998) अनुकूली नियंत्रण चार्ट के डिजाइन में हाल के घटनाक्रम के एक सर्वेक्षण। जे क्वॉल टेक्नोल 30 (3): 212231 Google विद्वान ट्रेवनिक ए, बोर्के पी (1 99 3) ईडब्ल्यूएमए नियंत्रण चार्ट्स 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प्रक्रिया या उत्पाद की निगरानी के लिए सांख्यिकीय उपकरण हैं। हालांकि, कुछ प्रक्रियाओं को इसके बजाय एक विशेषता की निगरानी के द्वारा नियंत्रित नहीं किया जा सकता है, प्रोफ़ाइल का उपयोग करके उन पर नजर रखी जानी चाहिए। प्रोफाइल निगरानी के आर्थिक-सांख्यिक डिजाइन एक प्रोफ़ाइल निगरानी योजना के पैरामीटर का निर्धारण करता है, जैसे कि कुल लागत कम हो जाती हैं, जबकि सांख्यिकीय उपाय उचित मूल्य बनाए रखते हैं। जबकि नमूनाकरण अंतराल में परिवर्तन आमतौर पर प्रोफाइल की निगरानी की प्रभावशीलता को बढ़ाता है, इस नमूने के अंतराल प्रोफ़ाइल मॉनिटरिंग के नमूनाकरण के आर्थिक-सांख्यिक डिजाइन की जांच की जाती है। एक विस्तारित लोरेनज़न-वांस फ़ंक्शन का उपयोग चर नमूनाकरण अंतराल मॉडल में कुल लागत के मॉडलिंग के लिए किया जाता है, जहां सिग्नल का औसत समय प्राप्त प्रोफ़ाइल मॉनीटरिंग स्कीम के सांख्यिकीय उपाय को दर्शाने के लिए उपयोग किया जाता है। दो नमूने अंतराल सेट अंकों की संख्या और नियंत्रण चार्ट के पैरामीटर, जो प्रोफ़ाइल मॉनिटरिंग में उपयोग किए जाते हैं वे चर हैं जो आर्थिक-सांख्यिक मॉडल को पूरी तरह से प्राप्त करते हैं। एक आनुवंशिक एल्गोरिथ्म को मॉडल का अनुकूलन करने के लिए नियोजित किया जाता है और एक प्रायोगिक डिजाइन दृष्टिकोण का उपयोग इसके पैरामीटर ट्यूनिंग के लिए किया जाता है संवेदनशीलता विश्लेषण और संख्यात्मक परिणाम प्रस्तावित मॉडल के लिए संतोषजनक प्रदर्शन दर्शाते हैं। पूर्ण पाठ अनुच्छेद जून 2016 मोहम्मद जवाद एर्शी रसलौल नूरसाना सय्यद ताही अखन नानाकी बीच में वीएसआई एक्स टाइप चार्ट्स के बीच, कुछ वीएसआई चलाने वाली एक्स योजनाएं कुछ मध्यम बदलावों के लिए वीएसआई ईडब्ल्यूएमए एक्स चार्ट को हल्के ढंग से पार कर सकती हैं। इस पत्र में पेश किए गए वीएसआई रन सम एक्स चार्ट ने सैकचसी एट अल द्वारा प्रस्तुत वीएसआई ईडब्ल्यूएमए एक्स चार्ट को पूरी तरह से मात नहीं किया है। (1992)। हालांकि, इस पत्र को गुणवत्ता चिकित्सकों के लिए रूपरेखा के रूप में माना जा सकता है क्योंकि प्रस्तावित चार्ट चिकित्सकों के लिए अधिक सीधा और सुगम है क्योंकि इसके आंकड़े माप के मूल पैमाने पर तैयार किए जा सकते हैं, वीएसआई ईडब्ल्यूएमए एक्स चार्ट के विपरीत, जो भूखंडों को स्पष्ट रूप से बदलते हैं। व्याख्या और विश्लेषण करने में अधिक मुश्किल है quot छिपाएँ सार छिपाना सार abstract: प्रक्रिया निगरानी के लिए पारंपरिक नियंत्रण चार्ट निश्चित लंबाई नमूने अंतराल पर प्रक्रिया से नमूनों लेने पर आधारित हैं। हाल ही में, शोध कार्य चर नमूनाकरण अंतराल (वीएसआई) के उपयोग पर केंद्रित है, जहां प्रक्रिया की गुणवत्ता के अनुसार नमूना अंतराल की लंबाई भिन्न होती है। एक संक्षिप्त नमूना अंतराल पर विचार किया जाता है जब प्रक्रिया की गुणवत्ता एक संभावित आउट-ऑफ-कंट्रोल स्थिति को इंगित करती है, एक लंबा नमूना अंतराल माना जाता है, अन्यथा। इस पत्र में, वीएसआई चलाने की राशि (आरएस) चार्ट को इष्टतम स्कोर और मापदंडों के साथ प्रस्तावित किया जाता है जो ऑप्टिमाइज़ेशन तकनीक का उपयोग करके निर्धारित समय (एटीएस) संकेत करने के लिए आउट-ऑफ-कंट्रोल औसत समय को कम करता है या समायोजित औसत समय (एएटीएस) । क्रमशः शून्य और स्थिर राज्य मामलों के लिए प्रस्तावित चार्ट के एटीएस और एएटीएस दोनों का मूल्यांकन करने के लिए एक मार्कोव-चेन विधि का उपयोग किया जाता है। परिणाम दिखाते हैं कि वीएसआई आरएस चार्ट मूल आरएस चार्ट से काफी अधिक कुशल है। वीएसआई आरएस चार्ट आमतौर पर अन्य प्रतियोगी चार्ट, जैसे मानक के साथ तुलना में अच्छा प्रदर्शन करता है। सिंथेटिक। तेजी से भारित चलती औसत (ईडब्ल्यूएमए) वीएसआई और वीएसआई ईडब्ल्यूएमए चार्ट वीएसआई आरएस चार्ट की संवेदनशीलता को और अधिक स्कोरिंग क्षेत्रों या सिर-स्टार्ट सुविधा जोड़कर और बढ़ाया जा सकता है। प्रस्तावित वीएसआई आरएस चार्ट के कार्यान्वयन की व्याख्या के लिए एक उदाहरण उदाहरण प्रस्तुत किया गया है। अनुच्छेद अगस्त 2015 विभिन्न प्रक्रियाओं के लिए विशेष रूप से संपर्कित तह सीन यिन प्रस्तावित किया गया है जिसे मुख्य रूप से चार विषयों में वर्गीकृत किया जा सकता है। 1. शेवार्ट नियंत्रण चार्ट 1, 2, 3, 4 2. EWMA नियंत्रण चार्ट 5, 6, 7 3. CUSUM नियंत्रण चार्ट 8, 9 4. कृत्रिम तंत्रिका नेटवर्क 10, 11 के आधार पर नियंत्रण विधि। हाल ही में कुछ तरीके Bayesian अनुमान प्रक्रिया नियंत्रण के लिए सुझाव दिया जाता है 12, 13. अलौकिक अवयव छिपाना सार abstract: उद्देश्य इस पत्र का उद्देश्य शिफ्ट पहचान समस्याओं के लिए फिट परीक्षणों की भलाई के आधार पर एक नई विधि का प्रस्ताव है। Designmethodologyapproach इस पद्धति में, हालांकि इस प्रक्रिया से इकट्ठे हुए डेटा का वितरण नियंत्रण का विषय है, लेकिन वितरण के मापदंडों सहित प्रक्रिया के समग्र स्थिति में किसी भी नियंत्रण से बाहर के संकेत को भी सामान्यीकृत किया जा सकता है। सिमुलेशन अध्ययन के निष्कर्ष परिणाम दर्शाते हैं कि फिट परीक्षणों की भलाई के बीच, 2 परीक्षण प्रक्रिया की पाली का पता लगाने में कोल्मोोगोरोव-स्मरनोव परीक्षण की तुलना में बेहतर प्रदर्शन है। इसके अलावा पारंपरिक तरीकों के साथ प्रस्तावित विधि की तुलना अर्थात्, प्रस्तावित विधि में आमतौर पर पहली और दूसरी प्रकार की त्रुटियों की छोटी संभावनाएं होती हैं। मौलिकता लेखक लेखकों के सर्वश्रेष्ठ ज्ञान के लिए, प्रक्रिया नियंत्रण में फिट परीक्षणों की भलाई के आवेदन के लिए पहले से कोई ध्यान नहीं दिया गया है। पूर्ण पाठ आलेख फरवरी 2015 मोहम्मद सालेह ओव्लिया मोहम्मद साबर फलाह नेझाद मोशन शेख सजादीह